Высокие технические характеристики совмещенного с микроскопом спектрометра комбинационного рассеяния Senterra позволяют коллективу НОЦ НТ успешно решать как научно-исследовательские, так и производственные задачи изучения химического, минералогического и фазового состава материалов.

Конструкция спектрометра Senterra включает ряд отличительных технических  особенностей и запатентованных решений: непрерывная калибровка, компактный конструктив, несколько длин волн возбуждения, возможность изучения вертикального профиля, функция автоматической компенсации флуоресценции.

Единый конструктив с микроскопом, наличие объективов различной оптической силы и возможность прецезионного перемещения столика с образцами упрощают выбор участка регистрации спектра. Большое число доступных для варьирования параметров измерительного тракта вместе с расширенными возможностями обрабатывающего программного обеспечения расширяют номенклатуру исследуемых материалов.

Отличительными чертами совмещенного с оптическим микроскопом (серии Olympus BX: работа в светлом и темном поле, поляризованном свете и др.) спектрометра комбинационного рассеяния Senterra являются высокая чувствительность и разрешающая способность, сравнимая с разрешающей способностью комбинационных Фурье-спектрометров.

В спектральном диапазоне 85...3500 см^-1 разрешение составляет до 3 см^-1. Единый конструктив с микроскопом, наличие объективов с отличающейся на порядок оптической силой и возможность прецезионного программного перемещения столика с образцами (как в латеральной плоскости, так и по аппликате) упрощают выбор участка для регистрации спектра КР. Оптический путь между последней оптической поверхностью объектива и образцом достаточен для установки дополнительных принадлежностей (в частности, имеющейся нагревательной ячейки); в то же время, оптический путь сравнительно мал, что снижает влияние шумов.

Аппаратная реализация спектрометра включает ряд технологий (в частности, т.н. непрерывную калибровку), обеспечивающих высокую точность по волновому числу без использования внешних стандартов и получение достоверных результатов измерений даже при отсутствии периодической перекалибровки.

Большое число доступных для варьирования параметров измерительного тракта (длина волны и мощность излучения возбуждения, форма и площадь апертуры, размер исследуемой области, время накопления сигнала, температура исследуемого образца и т.д.) вместе с расширенными возможностями обрабатывающего программного обеспечения расширяют номенклатуру исследуемых материалов и являются предпосылкой большого числа областей применения. Среди таковых – исследование химического и минералогического состава (идентификация целевых соединений, сравнительная оценка их содержания), определение параметров кристаллической решетки, исследование фазовых переходов первого и второго рода, изучение аллотропных, полиморфных и политипных переходов.

Основные характеристики спектрометра:

– разрешение: до 3 см^-1;

– спектральный диапазон измерений: от 85 до 3500 см^-1 (расширяется при разрешении 9 см^-1);

– длины волн возбуждения: 532 нм и 785 нм;

– мощность излучения возбуждения: от 200 мкВт до 50 мВт;

– кратность изменения площади апертуры: 100 (от точечной коллимации 25 мкм до щелевой 50x1000 мкм);

– время накопления сигнала: до 3 мин;

– размер исследуемой области: от 2,5 до 25 мкм;

– температура исследуемого образца: от 25 до 1200 °C;

– масса исследуемого образца: от единиц миллиграммов.

Дополнительная информация - в буклете производителя Bruker Optik. Ждем Ваших предложений по измерениям спектров комбинационного рассеяния!